上海光机所成功举办数字全息与三维成像会议

Thickness-Measurement-Sio2-pattern 5月25-28日,由上海光机所承办的美国光学学会专题会议“数字全息与三维成像”会议在上海光机所成功举办。本届会议由上海光机所周常河研究员担任会议主席,美国Partha Banerjee教授,法国Pascal Picart教授和韩国Hoonjong Kang教授担任会议节目委员会共主席。

  开幕式上,上海光机所所长李儒新致欢迎辞。美国宾州大学杨振寰教授做了大会报告,美国麻省理工学院 George Barbastathis 教授、韩国首尔大学Byoungho Lee 教授做了tutorial报告。美国工程院院士James Fienup、中国工程院院士金国藩、美国SPIE现任主席Yatagai等国内外同行学者也应邀出席了会议。

  来自美国、德国、法国,英国、日本、加拿大、韩国、新加坡、俄罗斯、匈牙利、西班牙、土耳其、波兰、印度、中国等国家189人参加会议,其中境外代表110人,参会人员总数达到了美国光学学会该专题会议历史最高纪录。会议收到国内外学者投稿130篇,其中邀请报告8篇、口头报告88篇、张贴报告29篇。

  本届会议议题包括:计算机全息图中新技术、压缩感知计算机全息方法、全息数字显微镜、数字全息光学处理技术、三维成像与显示、数字全息应用、计量与测量等,集中展示了数字全息与三维成像领域国内外同行最新的研究成果。本届会议的成功举办加深了中国学者与国际同行之间的学习交流,会议效果得到了与会专家的高度认可。(信息光学与光电技术实验室供稿)

关于 DHM3D

DHM3D http://www.dhm3d.com
此条目发表在 透射式数字全息显微镜 分类目录。将固定链接加入收藏夹。